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1.1 失效和失效分析 產品喪失規定的功能稱為失效。判斷失效的模式,查找失效原因和機理,提出預防再失效的對策的技術活動和管理活動稱為失效分析。 1.2 失效和事故 失效與事故是緊密相關的兩個范疇,事故強調的是后果,即造成的損失和危害,而失效強調的是機械產品本身的功能狀態。失效和事故常常有一定的因果關系,但兩者沒有必然的聯系。 1.3 失效和可靠 失效是可靠的反義詞。機電產品的可靠度R(t)是指時間
聚焦離子束顯微鏡FIB/SEM/EDX FEI Scios 2 DualBeam技術指標 一、技術指標 1、電子束電流范圍:1 pA - 400 nA; 2、電子束電壓:200eV-30 keV,具有減速模式 3、電子束分辨率:0.7 nm (30 keV)、1.4 nm(1 keV) 4、大束流Sidewinder離子鏡筒; 5、離子束加速電壓500V-30kV(分辨率:3.0 nm); 6、離
作為研發較怕遇到的事情之一就是芯片失效的問題,好端端的芯片突然異常不能正常工作了,很多時候想盡辦法卻想不出問題在哪。的確,芯片失效是一個非常讓人頭疼的問題,它可能發生在研發初期,可能發生在生產過程中,還有可能發生在終端客戶的使用過程中。造成的影響有時候也非常巨大。 作為各種元器件的載體與電路信號傳輸的樞紐,PCB已經成為電子信息產品的較為重要而關鍵的部分,其質量的好壞與可靠性水平決定了整機設備的質
2018年失效分析技術分享活動,儀準科技自2012年在北京建立以來,一直受到半導體行業內**們的支持與鼓勵,這6年來,有贊美,有夸獎,有磕絆,也有不足;感謝大家一直以來的包容與支持,**們之間的反饋與意見是我們進步的較大推動力。 我們也一直在半導體行業中努力吸收新鮮知識,緊跟行業潮流,完善公司設備及技術要求,盡我們的較大努力,去達到實驗標準。 儀準科技特此推出2018年年中的優惠活動,以此來回饋新
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