PCB失效分析方法

時間：2020-04-30作者：儀準科技（北京）有限公司瀏覽：179

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  詞條說明

• 半導體技術公益課

  半導體技術公益課：有需要線上分享可以安排時間講您擅長的領域，半導體相關的都歡迎，話題 時長不限 名稱：半導體技術公益課講師征集 時間：每周五下午5-7點 時長：不限 方式：直播分享 演講者可以準備ppt，發來題目，框架，時長，個人簡介，協調好時間后即可安排。 想做線上分享的，可以聊您擅長的領域，半導體相關的都歡迎，話題，時長不限 IC失效分析實驗室 北軟檢測智能產品檢測實驗室于2015年底實施運營

• FIB功能介紹

  FIB - SEM雙束系統在微電子領域的應用 隨著半導體電子器件及集成電路技術的飛速發展，器件及電路結構越來越復雜，這對微電子芯片工藝診斷、失效分析、微納加工的要求也越來越高。FIB - SEM雙束系統所具備的強大的精細加工和微觀分析功能，使其廣泛應用于微電子設計和制造領域。 基本原理： FIB - SEM雙束系統是指同時具有聚焦離子束（Focused Ion Beam，FIB）和掃描電子顯微鏡（

• 微納加工應用

  聚焦離子束，Focused Ion beam 服務介紹：FIB（聚焦離子束，Focused Ion beam）是將液態金屬離子源產生的離子束經過離子槍加速，聚焦后照射于樣品表面產生二次電子信號**電子像，此功能與SEM（掃描電子顯微鏡）相似，或用強電流離子束對表面原子進行剝離，以完成微、納米級表面形貌加工。 服務范圍：工業和理論材料研究，半導體，數據存儲，自然資源等領域 服務內容：1.芯片電路修改

• 光學設備廠家及供應商匯總

  以下是光學設備廠家及供應商匯總，若有您知道還沒統計上的，請留言補充，滴水成海能讓更多人受益。 光學設備廠家及供應商匯總 單位名稱 電話 主營產品 上海儀準電子科技有限公司 13488683602 金相顯微鏡、體視顯微鏡、微光顯微鏡、紅外顯微鏡、掃描電子顯微鏡、超聲波掃描顯微鏡、Ⅹ射線、探針臺、半導體失效分析設備 上海富萊光學科技有限公司 051255183943 奧林巴斯顯微鏡、三豐測量工具、日立