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掃描電鏡(SEM) 服務介紹:SEM/EDX(形貌觀測、成分分析)掃描電鏡(SEM)可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。EDX是借助于分析試樣發出的元素特征X射線波長和強度實現的,根據不同元素特征X射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試樣中元素的含量。通常EDX結合電子顯微鏡(SEM)使用,可以對樣品進行微區成分分析。 服務范圍:**,航天,半導體,先進
2019年**半導體市場陷入萎縮,而中國可圈可點 經常會有人問半導體產業是什么樣的一種產業?魏少軍教授用奧地利經濟學家約瑟夫·熊彼得的一句話來引出,那就是“創新不是一個技術概念,而是一個經濟概念”。半導體或者芯片產業,恰恰是一個創新驅動的產業,它的發明較終變成了錢,它是靠創新的方式來發展。所以它是個創新驅動的產業。 了解了半導體產業的形式之后,再來看下半導體產業的發展情況。以史為鑒,從1987年到
芯片開封機分用化學腐蝕和激光開封兩種,區別是激光開封比較簡單,而且開封銅線邦定的效果好 開封指去除ic封膠,同時保持芯片功能的完整無損, 保持 die, bond pads, bond wires乃至lead-frame不受損傷, 為下一步芯片失效分析實驗做準備。也稱為開蓋,開帽,去封范圍:普通封裝COB、BGA 陶瓷、金屬等其它特殊封裝。 芯片IC半導體元器件開封機decap酸開封機自動開封機激
聚焦離子束顯微鏡FIB/SEM/EDX FEI Scios 2 DualBeam技術指標 一、技術指標 1、電子束電流范圍:1 pA - 400 nA; 2、電子束電壓:200eV-30 keV,具有減速模式 3、電子束分辨率:0.7 nm (30 keV)、1.4 nm(1 keV) 4、大束流Sidewinder離子鏡筒; 5、離子束加速電壓500V-30kV(分辨率:3.0 nm); 6、離
公司名: 儀準科技(北京)有限公司
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