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8-14um,基于a-Si非晶硅材料探測器的遠紅外相機Xenics紅外相機的LWIR長波紅外相機,基于a-Si非晶硅材料探測器的長波紅外非制冷相機,包括小型、高性能長波紅外非制冷相機(遠紅外相機)Gobi+ 640系列和緊湊型高分辨率工業熱成像應用的Ceres T系列。a-Si探測器材料是一種新興的半導體薄膜材料,是一種直接能帶半導體,一般除了應用在半導體、太陽能電池上,也可用作自計溫度計照相機(
寬帶勻光片是一種是高效、低成本、大體積均勻化中低功率激光束的最佳解決方案,從其名稱可以推斷,適合寬波段激光勻化使用。寬帶勻化片是一種無序微透鏡陣列,添加了隨機函數,可修改微透鏡陣列的凹陷和曲率,旨在將非均勻激光束均勻化為更均勻的均勻化強度分布。與有序微透鏡陣列相比,寬帶散射片沒有有序偽影,因此提供了更好的均勻性。與隨機光束勻化器可以產生沒有明顯邊緣的高斯圓形形狀不同的是,寬帶勻光片的優勢在于,可以
請注意,干凈的光學元件可保證優越的性能,灰塵、污跡和其他的微粒會降低光的透射或者反射。在進行所有的操作前請戴好手套。如何清潔光學鏡片,請查看光學元件清潔的注意事項和操作步驟。如果光學元件只是表面上有些灰塵,不要用你的嘴使勁的吹,也不要使用你的唾液清潔。請使用氣壓槍,在清潔光學元件時,非接觸式清潔是最安全的清潔方法,因此第一步請使用氣壓槍。當你想清潔指紋或者其他污漬時,最好使用鏡頭紙和溶劑。當你使用
中紅外反射特征結合**級聯激光器QCL用于檢測表面微量化學物質
中紅外光譜學是一個有前景的方法用于非接觸式的檢測,Blockeng利用量子級聯激光器檢測表面微量化學的一種方式。因為大多數物質在光譜的中紅外部分具有強而獨特的吸收特征,我們的探測方法,主動式中紅外高光譜成像(HSI),包括在與高速相機相結合,捕捉目標表面的高光譜圖像(即超立方體反射光譜。對這些超立方體進行了光譜特征分析,展示出了用于化學檢測的優點。這項技術的一個非常重要的應用是探測微量爆炸物。文章
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