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在激光加工領域中,普遍需要得到能量均勻分布的正方形的勻化光斑。針對這一類激光勻化需求,我司推出過雙微透鏡陣列的勻化方案。該方案使用的是兩片子單元為正方形的微透鏡陣列,該方案中的光路調試過程中,兩片微透鏡陣列的子單元要求對準,對調試的精度要求稍微偏高。現我司推出使用兩片柱面微透鏡得到正方形勻化光斑的方案,降低了對調試的精度要求。本文針對后者勻化方案作了簡要介紹。常見的雙微透鏡勻化光路,如下圖所示:激
海納新出了一款寬波段紅外探測卡,新出的型號能滿足大多數用戶的波長要求。寬波段紅外探測卡打破原有國產紅外檢測卡波段窄的限制,將波長從原有的1590nm擴大到了2130nm。最為關鍵的一點是這個新款的紅外檢測卡可替代一系列國產紅外激光探測卡和進口的激光可視卡,比如可以替代N-1-AC、N-1-AG、N-1-BG、N-3-AM,俄羅斯phts的IR1/IR2/IR3系列以及索雷博的VRC2、VRC5、V
對于使用者來說,應嚴格遵循TYDEX光學元件處理和清潔的注意事項,否則很有可能導致太赫茲光學元件的性能受到損傷。下面將分類介紹太赫茲光學元件的處理和清潔。一、太赫茲偏振片、陷波濾波器1.處理光學器件的光學表面對機械沖擊、污染和化學物質非常敏感。因此,請特別注意這種光學元件。所有Thz光學元件都需要以面朝上的方式安裝或裝入外殼中。要卸下光學組件,請小心握住它的邊緣,不要碰到表面。切勿觸摸光學元件的凹
隔振技術可分為被動隔振(又稱無源隔振)和主動隔振(又稱有源隔振)。被動隔振只能對某一特定的窄頻段振動起到衰減作用,而對于隔振對象狀態變化較大和振動干擾時變性較強的場合不太適合;同時,由于穩定性的限制,被動隔振也無法對低頻振動進行衰減。而主動隔振技術是在被控系統中引入次級振源,并通過一定的控制方法調節次級振源的輸出,使其產生的振動與主振源(干擾)的振動相抵消,從而達到隔振的目的。與被動隔振技術相比,
公司名: 深圳維爾克斯光電有限公司
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