全新配件：光源對比增強器，**呈現低對比度及透明樣品

時間：2021-10-11作者：似空科學儀器（上海）有限公司瀏覽：371

似空科學儀器（上海）有限公司專注于無損檢測設備,芯片開封機,影像測量儀,研磨拋光設備等

• 詞條

  詞條說明

• 芯片封裝如何去除？---芯片開封介紹

  芯片開封也就是給芯片做手術，根據開封我們可以形象化的觀查芯片的內部構造，開封后可以融合OM具體分析試品現況和將會造成的緣故。開封的含意：Decap即開封，也稱打開表蓋，開帽，指給詳細封裝的IC做部分浸蝕，促使IC可以曝露出去，與此同時維持芯片作用的完好無損, 維持 ** , bond pads, bond wires甚至lead-不會受到損害, 為下一步芯片失效分析試驗做準備，便捷觀查或做別的檢測

• 全新產品Deltron車間型三坐標測量機

  DELTRON專為車間使用而設計的三坐標測量機Vision Engineering與英國Aberlink攜手合作開發，生產全新產品Deltron，創新且較具競爭力同時具有**高性價比的車間型接觸式測量系統。DELTRONCNC三坐標測量機緊湊耐用精確高重復性Deltron是一款耐用、可靠并且易用的全新三坐標測量機(CMM)，采用堅實耐用的“非笛卡爾式”設計，創新的delta機構，確保高水平的測量精度

• 不影響報告的3D立體檢測

  顯微鏡是許多領域的標準設備，從研究機構到制造領域的不**業，如電子、醫療技術及精密工程。 然而，當涉及到觀測或微組裝任務時，還沒有適用于各個應用和行業的“萬全之策”標準顯微鏡。通常，設置檢測系統標準的起點是在數碼或光學設備之間進行選擇。?2D數碼或3D光學立體——顯微鏡之間的主要區別顯微鏡主要分為兩大類：一類是光學體視顯微鏡，大約在1673年發明，較早的雙目顯微鏡大約在1850年發明；另

• 無目鏡光學技術令質檢工作健康高效

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