無目鏡體視顯微鏡在毛發移植領域的應用

時間：2021-08-17

作者：似空科學儀器（上海）有限公司

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常見芯片開封技術及儀器簡介
常見芯片開封技術及儀器簡介?Wayne Zhang（似空科學儀器（上海）有限公司）2022.10.11?? ? ? ?芯片失效分析（FA, Failure Analysis）的常見方法中，包含非破壞性分析（無損檢測，如超聲波、X-RAY分析）、破壞性物理分析（有損檢測，如芯片開封/開蓋、切片制樣）、I-V電氣特性分析、EMMI微光檢測等。
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?VE Cam緊湊型全高清數碼顯微鏡系統，在需要它的任何地方為您提供快速準確的觀測。高質量定制化光學和數碼功能結合的**性能。適用于目視觀測及質量控制的理想之選。VE Cam的緊湊設計令工作環境減少雜亂，節省寶貴的工作空間。它不需要搭配PC電腦、鍵盤或鼠標，如果您的空間特別有限，可以簡單地僅在該系統上安裝一個屏幕。搭配小巧的迷你顯示器，該系統僅需占地面積25 × 34毫米。?&
全新配件：光源對比增強器，**呈現低對比度及透明樣品
Vision Engineering向您推薦多系統適用，可增強對比度的透視照明配件產品：光源對比增強器。專為Vision Engineering觀測產品系列而設計的全新配件，這款光源對比增強器，正如它的名字那樣，可提高觀測目標物的圖像對比度。現在可以通過這款全新照明配件來**呈現低對比度及透明樣品。透射式傾斜照明，為那些幾乎無法看到的透明或半透明物體帶來生動清晰的三維立體觀察效果。主要亮點：● 增
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