SDF-Ⅲ便攜式pH計(jì)/電導(dǎo)儀/分光光度計(jì)檢定裝置

時(shí)間：2022-02-24作者：通量科技（南通）有限公司瀏覽：415

通量科技（南通）有限公司專注于酸度計(jì)檢定儀,電導(dǎo)儀檢定裝置,分光光度計(jì)檢定裝置等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• DQJ-1型直流單臂電橋檢定裝置

  通量科技（南通）有限公司DQJ-1直流單電橋檢定裝置是依據(jù)JJG982-2003直流電阻箱檢定規(guī)程和JJG125-2004直流電橋檢定規(guī)程生產(chǎn)的，用于整體檢定攜帶型單電橋。共有十個(gè)十進(jìn)電阻盤，測(cè)量上限為11 MΩ，較小步進(jìn)電壓為1mΩ，能覆蓋攜帶型單橋的所有量限，并具有對(duì)檢定電橋的較小分辨力的要求。本裝置根據(jù)電橋不同量程時(shí)有不同的準(zhǔn)確度，故(十進(jìn)電阻盤)具有不同的準(zhǔn)確度。2、主要技術(shù)指標(biāo)2.1 測(cè)

• 標(biāo)準(zhǔn)石英吸收池，分光光度計(jì)計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)

  標(biāo)準(zhǔn)石英吸收池相對(duì)不確定度：0.2%內(nèi)徑及不確定度（10± 0.01）mm通量科技（南通）有限公司標(biāo)準(zhǔn)石英吸收池用于分光光度計(jì)檢測(cè)。?紫外可見近紅外分光光度計(jì)計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)通量科技（南通）有限公司紫外可見分光光度計(jì)檢定標(biāo)準(zhǔn)器主要用于紫外可見分光光度計(jì)計(jì)量校準(zhǔn)。介質(zhì)膜干涉濾光片標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)（GBW(E)130120） 1套鐠釹濾光片標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)???（GBW(E)13012

• GBW(E)130550可見-近紅外波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)

  GBW(E)130550可見-近紅外波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)值：波長(zhǎng)1：431~807nm；不確定度：0.2nm波長(zhǎng)2：1228~2537nm；不確定度：0.4nm1片/盒通量科技（南通）有限公司GBW(E)130550可見-近紅外波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)?GBW(E)130552高漫反射比白板標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)漫反射比值：0.973~0.987不確定度：0.0091片/盒通量科技（南通）有限公司GBW(E)1305

• 光譜中性衰減低透過(guò)率模擬器

  光譜中性衰減低透過(guò)率模擬器-通量科技（南通）有限公司???主要參數(shù)：在儀器測(cè)定波長(zhǎng)名義值（589nm、880nm、882nm）上下10nm范圍內(nèi)，對(duì)于衰減比為10%、1%，其衰減相對(duì)變化不**過(guò)±20%。透過(guò)率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對(duì)旋光度影響不**過(guò)儀器的較小分度示值。機(jī)械斬波低透過(guò)率模擬器主要參數(shù)：通量科技（南通）有限公司機(jī)械斬波低透過(guò)率模擬器只限于與符合OIML