優爾鴻信檢測|IC (集成電路)檢測的常用方法有哪些？

時間：2025-12-19

作者：優爾鴻信檢測技術(深圳)有限公司

15827322876

詞條
詞條說明
在電子電氣產品跌落試驗中，產品不同的著地姿態（如正面著地、邊角著地、側面著地）對產品損壞程度有何不同影響及原因？
在電子電氣產品跌落試驗中，不同著地姿態對產品損壞程度有著顯著不同的影響。當產品正面著地時，對于帶有顯示屏的電子設備，如手機、平板電腦等，屏幕往往是最容易受損的部分。這是因為屏幕是一個相對脆弱的平面結構，正面著地會使沖擊力直接作用于屏幕。屏幕玻璃可能會出現破裂，內部的液晶層也可能會受到擠壓損壞，導致顯示異常。同時，正面著地還可能使位于產品正面的按鍵、攝像頭等部件因受到沖擊而損壞，例如按鍵可能會失去彈
售后服務
優爾鴻信，基于產品生命周期，一站式實驗室檢測技術服務。面向七大行業：電子電氣汽車材料零部件環境有害物質食品安全家用電氣醫療器械設備計量校準尺寸測量
不同加工工藝對鋁及鋁合金成分分析檢測結果的影響有哪些？
鑄造工藝的影響在鑄造過程中，熔煉溫度和時間是關鍵因素。如果熔煉溫度過高或時間過長，一些低熔點的合金元素可能會揮發，從而導致成分分析檢測時這些元素的含量比實際配方中的含量低。例如，鋁合金中的鎂元素，其熔點相對較低，在高溫熔煉過程中容易揮發損失。冷卻速度也會對成分檢測結果產生影響。較快的冷卻速度可能導致元素偏析。例如，在鑄造鋁合金時，硅元素可能會在晶界處富集，使晶界和晶內的成分出現差異。在進行成分分析
優爾鴻信檢測|多層陶瓷電容短路失效分析
一背景客戶汽車方向盤主板功能失效，經排查后主板 C1 電容出現短路現象（經萬用表量測，電容兩端阻值約 14 KΩ），送測至實驗室分析其失效原因。二實驗方案三測試結果1.電容測量（破壞前）：采用萬用表“歐姆”檔測量 C1 電容兩端阻值為 14.23KΩ。2.3D 外觀觀察：主板 C1 位置焊盤表面殘存淡黃色透明裝物質，其余未見異常。3.SEM 外觀檢查（破壞前）：C1 電容表面及 Psd 點附