CE-LVD常見(jiàn)問(wèn)題與相關(guān)知識(shí)

時(shí)間：2020-04-28作者：深圳市貝德技術(shù)檢測(cè)有限公司瀏覽：102

深圳市貝德技術(shù)檢測(cè)有限公司專(zhuān)注于CR認(rèn)證,CE認(rèn)證,防止兒童打開(kāi)包裝測(cè)試等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 美國(guó)兒童防打開(kāi)測(cè)試

  深圳市貝德技術(shù)檢測(cè)是通過(guò)ISO 17025認(rèn)證的獨(dú)立測(cè)試機(jī)構(gòu)，已為國(guó)內(nèi)多家貿(mào)易商、制造商解決防兒童包裝認(rèn)證。 防止兒童打開(kāi)測(cè)試的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)有： 美國(guó)消費(fèi)品安全**16 CFR*1700部分-家用物質(zhì)特殊包裝的要求 ASTM D3475-18：耐兒童包裝-可重復(fù)打開(kāi)包裝的要求和試驗(yàn)程序 EN ISO 8317:2004 -耐兒童包裝-可重壓包裝的要求和試驗(yàn)程序 EN 14375:2003 -用于制藥

• 電子產(chǎn)品出口歐盟，除了CE的相關(guān)指令外，還需要做ROHS

  隨著社會(huì)經(jīng)濟(jì)的發(fā)展，有害元素對(duì)人的危害已經(jīng)成為一個(gè)不可回避的重要問(wèn)題。**都陸續(xù)出臺(tái)了相關(guān)控制商品中有害元素含量的法規(guī)，而且對(duì)有害元索的限制值呈日漸降低的趨勢(shì)。 2013年1月3日起歐洲執(zhí)行新CE指令，電器產(chǎn)品需滿足CE/EMC+CE/LVD+CE/ErP+CE/RoHS四個(gè)指令要求，才可以使用CE標(biāo)志合法銷(xiāo)售歐洲市場(chǎng)。 低電壓LVD指令2006/95/EC 電磁兼容EMC指令2004/108

• CR（防兒童）包裝做ISO 8317的作用

  測(cè)試背景 近幾年來(lái),兒童中毒事件呈增多趨勢(shì)多為急性中毒發(fā)生年齡高峰為幼兒和學(xué)齡兒童。兒童中毒的主要原因是由于其年幼無(wú)知、缺乏生活經(jīng)驗(yàn)和安全意識(shí)以及識(shí)別能力差造成的。他們天生好奇善于模仿的本性使他們比任何人較*中毒。 在兒童意外傷害中,由于誤食而造成的意外傷害***三位。然而這些損失通常是可以避免的，除了監(jiān)護(hù)人采取必要的防護(hù)措施外，大力提高兒童安全包裝意識(shí)、推廣兒童安全包裝方法將是進(jìn)一步減少兒童意

• 供應(yīng)防止兒童打開(kāi)包裝測(cè)試 | 常見(jiàn)標(biāo)準(zhǔn)與作用

  防止兒童打開(kāi)包裝測(cè)試的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)： 美國(guó)消費(fèi)品安全**16 CFR*1700部分-家用物質(zhì)特殊包裝的要求 ASTM D3475-18：耐兒童包裝-可重復(fù)打開(kāi)包裝的要求和試驗(yàn)程序 EN ISO 8317:2004 -耐兒童包裝-可重壓包裝的要求和試驗(yàn)程序 EN 14375:2003 -用于制藥產(chǎn)品的耐兒童的不可重壓包裝 EN 862:2005 -包裝。耐兒童包裝。非制藥產(chǎn)品不可重蓋包裝的要求和試驗(yàn)程