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半導體芯片高低溫測試裝置的日常保養?????用戶在使用半導體芯片高低溫測試裝置的時候,需要經常對半導體芯片高低溫測試裝置進行保養工作,使得半導體芯片高低溫測試裝置達到較好的運行效果。打掃半導體芯片高低溫測試裝置表面及內腔灰塵,保持機器干凈、衛生。檢查電流表電流跟正常時是否一樣,如有異樣,通知維修工檢修。半導體芯片高低溫測試裝置突然停電,要把加熱開關
項目介紹 冷熱沖擊即高低溫沖擊測試,是將試驗樣品暴露在高溫和低溫的連續交替環境中,使其在短時間內經歷溫度急劇變化,考核產品對周圍環境溫度急劇變化的適應性。冷熱沖擊測試是裝備設計定型的鑒定試驗和批產階段的例行試驗中不可缺少的試驗,在有些情況下也可以用于環境應力篩選試驗。可以說冷熱沖擊試驗箱在驗證和提高裝備的環境適應性方面應用的頻度僅次于振動與高低溫試驗。試驗目的冷熱沖擊試驗主要驗證樣品在高溫和低溫變
? 高溫運行(高溫貯存)的目的是確定軍民用設備、零部件在常溫條件下儲存和工作的儲存、使用的適應性及耐久性,確認材料高溫下的性能,為能正確觀察與驗證產品在高溫環境下之熱效應,同時避免因濕度效應影響試驗結果,標準中對于試驗前處理、試驗初始檢測、樣品安裝、中間檢測、試驗后處理、升溫速度、溫度柜負載條件、被測物與溫度柜體積比等均有規范要求,高溫條件下試件的失效模式 產品所使用零件、材料在高溫時可
如溫度、濕度、氯化鈉溶液濃度和PH值等做的明確具體規定,另外還對鹽霧試驗箱性能提出技術要求。鹽霧測試的目的是為了考核產品或金屬材料的耐鹽霧腐蝕質量,而鹽霧試驗結果判定正是對產品質量的宣判,它的判定結果是否正確合理,是正確衡量產品或金屬抗鹽霧腐蝕質量的關鍵。鹽霧試驗結果的判定方法有:評級判定法、稱重判定法、腐蝕物出現判定法、腐蝕數據統計分析法。鹽霧等級判定標準:1、GB/T 6461-2002 &n
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