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功能及用途】 簡介: USA探地成像儀是一種利用探測地球電磁場遇到不同介質(zhì)而產(chǎn)生的變化來實現(xiàn)三維圖象的探地測量儀器。它不需要發(fā)射信號到地球,而是利用地球內(nèi)部已經(jīng)存的地球電磁場信號,防止了普通探地達的大功率發(fā)射信號對人體和環(huán)境的影響,同時也不受外部環(huán)境的干擾,適用于各種復(fù)雜的環(huán)境。 USA探地成像儀使用方便,成像清晰,層次分明,立體感強,判斷準確,是現(xiàn)在市場上一的可以同時實現(xiàn)金屬物體和非金屬物體
粗糙度儀概述 DR130表面粗糙度測量儀集當(dāng)今微處理器技術(shù)和傳感技術(shù)于一體,以先進的微處理器 和優(yōu)選的高度集成化的電路設(shè)計,構(gòu)成適應(yīng)當(dāng)今儀器發(fā)展趨勢的**小型的體系結(jié)構(gòu), 完成粗糙度參數(shù)的采集、處理和顯示工作。DR130表面粗糙度測量儀適用于加工業(yè)、 制造業(yè)、檢測、商檢等部門,尤其適用于大型工件及生產(chǎn)流水線的現(xiàn)場檢驗,以及檢測、計量、商檢等部門的外出檢定。是**于測量被加工零件表面粗糙度的新型智能
產(chǎn)品型號:CM8855 產(chǎn)品名稱:CM8855涂層測厚儀 產(chǎn)品貨號: 產(chǎn)品價格:0 產(chǎn)品品牌:星楓儀器 產(chǎn)品類別:物理性質(zhì)檢測儀器 CM-8855涂層測厚儀,CM8855膜厚儀 CM-8855涂層測厚儀特性 CM-8855涂層測厚儀是用電池供電的便攜式測量儀器, CM8855膜厚儀采用磁感應(yīng)和電渦流原理。CM8855膜厚儀測量方法符合國際標準ISO2178,ISO2360和國家標準GB4956,
LS619Ⅱ激光標線儀特征: 5線激光和1點下鉛垂激光 前、右、上3十字交叉激光線 連續(xù)或脈沖激光,室內(nèi)外兼用 自動安平,**范圍報警 具有斜線功能 機座360°任意角轉(zhuǎn)動 LS619Ⅱ激光標線儀技術(shù)規(guī)格: 激光波長:635nm 激光等級:ClassⅡ 精 度:±0.75mm/5m 安平范圍:±3° 電 源:鎳氫電池或4節(jié)5#電池 尺 寸:Φ95×190mm 重 量:1Kg 基本配置: LS619
公司名: 南昌星楓儀器有限公司
聯(lián)系人: 黃經(jīng)理
電 話: 0791-85226050
手 機: 15970662315
微 信: 15970662315
地 址: 江西南昌青云譜區(qū)南昌市青云譜區(qū)三點西路44號
郵 編: 330001
網(wǎng) 址: 0a05e41548.cn.b2b168.com
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