江西光譜分析儀價(jià)格和售后服務(wù)

時(shí)間：2023-05-29作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：108

江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標(biāo)準(zhǔn)片,光譜儀測(cè)厚儀等

• 詞條

  詞條說明

• IC載板和引線框架鍍層測(cè)厚及成分分析的難點(diǎn)有哪些？

  集成電路（Integrated Circuits，IC）在現(xiàn)代科技領(lǐng)域扮演著的角色，而IC載板和引線框架作為IC封裝的重要組成部分，對(duì)于電子設(shè)備的性能和可靠性具有重要影響。在IC載板和引線框架的制造過程中，鍍層的測(cè)厚及成分分析成為了關(guān)鍵技術(shù)，然而，這個(gè)過程卻面臨著一系列挑戰(zhàn)和難點(diǎn)。?IC載板和引線框架的重要性：?IC載板作為IC封裝的基底，支撐著微小的集成電路芯片，不僅需要具備

• 光譜分析儀在珠寶首飾行業(yè)鍍層檢測(cè)方面的應(yīng)用介紹

  貴金屬主要指金、銀和鉑族金屬元素(釕、銠、鈀、鋨、銥、鉑)。貴金屬純度檢測(cè)一般依據(jù)兩項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn)來進(jìn)行，國家質(zhì)檢總局發(fā)布的國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T18043《貴金屬首飾含量的無損檢測(cè)方法X射線熒光光譜法》中明確指出可使用X熒光來進(jìn)行貴金屬含量的無損檢測(cè)方法。目前在貴金屬制造行業(yè)已經(jīng)形成大規(guī)模使用X熒光光譜儀(XRF)來測(cè)試貴金屬含量。那光譜分析儀在珠寶首飾行業(yè)鍍層檢測(cè)方面有哪些優(yōu)勢(shì)呢?今天就和光譜分析儀生產(chǎn)

• XU-100光譜測(cè)厚儀相比其他品牌測(cè)厚儀有哪些優(yōu)勢(shì)？

  XU-100光譜測(cè)厚儀采用下照式C型腔體設(shè)計(jì)，搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng)，以及高敏變焦測(cè)距裝置，對(duì)各種大小異形件都可快速、精準(zhǔn)、無損測(cè)量。檢測(cè)各種金屬鍍層，檢出限可達(dá)0.005μm,較近測(cè)距光斑擴(kuò)散度10%以內(nèi)，凹槽深度測(cè)量范圍可達(dá)030mm,是一款測(cè)量鍍層厚度*、適用性強(qiáng)的機(jī)型。① 下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。② 高精密微型移動(dòng)滑軌：快速精準(zhǔn)定位樣品。③ 微焦X

• 連接器鍍層測(cè)厚解決方案，為穩(wěn)定鏈接**

  大家好，今天小編為大家分享的是連接器鍍層測(cè)厚解決方案。?連接器（Connectors），在國內(nèi)亦稱為接插件、插頭和插座，扮演著電路或光通道連接的重要角色。它是一種功能元件，借助電信號(hào)或光信號(hào)以及機(jī)械力量的作用，實(shí)現(xiàn)電路或光通道的接通、斷開或轉(zhuǎn)換。連接器在各種領(lǐng)域如航空、通訊、計(jì)算機(jī)、工業(yè)等中，起著連接電信號(hào)或光信號(hào)的關(guān)鍵作用，確保信號(hào)傳輸?shù)臏?zhǔn)確和穩(wěn)定。本文將聚焦于連接器中的接觸件表面鍍層