RoHS2.0認證新標準

時間：2022-09-28

作者：昆山市周市牧亞凱機電設備商行

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RoHS2.0檢測項目及要求
RoHS2.0檢測項目及要求一.RoHS2.0詳細介紹規(guī)范RoHS這是歐盟法律制定的強制性標準標準。它完全被稱為一些有害成分在電子和電氣設備中的應用指令(RestrictionofHazardousSubstances)。該規(guī)范已于2006年7月1日逐步實施，主要用于標準電子電器新產品的材料和工藝標準，較有利于健康和生態(tài)環(huán)境保護。本規(guī)范主要用于清除家用電器和電子設備中的鉛.汞.鎘.六價鉻.PBB和
X射線熒光光譜分析在地質分析中的應用
1 X射線熒光光譜儀的原理X射線熒光是一種由于原子內部結構變化所導致的現(xiàn)象。眾所周知, 一個原子由原子核及核外電子組成, 若內層電子受到足夠能量的X射線照射, 會脫離原始運行軌道釋放出電子, 并在該電子殼層上產生電子空位, 此時該電子空位會被處于高能量電子殼層的電子通過自發(fā)性躍遷填補。由于不同電子殼層之間存在著能量差并以熒光 (二次X射線) 的形式釋放出來, 而不同元素所釋放出來的二次X射線能量也
【ROHS有害物質檢測儀】rohs檢測儀的分析原理
rohs檢測儀的分析原理ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測角儀、探測器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測器和相關電子與控制部件，相對簡單。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分
涂鍍層測厚儀測量原理
涂鍍層測厚儀測量原理磁感應測量原理采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本