Xenics中波紅外相機(MWIR相機)

時間：2022-05-11

作者：深圳維爾克斯光電有限公司

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詞條
詞條說明
集塵環境下使用Specim高光譜相機的注意事項
高光譜成像是一種表面測量方法，因此灰塵或任何遮蓋樣品表面的東西都會干擾掃描并阻礙測量。那么如何在多塵環境中操作高光譜相機測量樣品呢？?灰塵出現在被測物體上干凈的樣品總是得到更好的測量，能提高它們的識別度。例如，在測量樣品核心部分時，必須在掃描之前清潔樣品。在回收過程中，灰塵或包裝標簽會阻礙系統的分揀精度。如果要分揀的材料無法清潔或充分暴露在攝像機下，則需要調整分揀算法以將這種情況考慮在內
prior納米定位平臺在速率快與高精準度領域的應用
40多年來，Queensgate一直是高精度納米定位產品的優秀供應商。Queensgate源于倫敦帝國理工學院（Imperial College）的開創性研究，在納米定位方面“寫了一本書”。這本書的作者是托馬斯·希克斯（ThomasHicks）和保羅·阿瑟頓（PaulAtherton），書名為：《The Nano Positioning》這本書對于納米級的“精度”和“精確度”進行了嚴格的定義，時至
光纖光譜儀應用在檢測薄膜厚度
首先介紹一下光的干涉。由于光的波動特性，若干列光波在空間相遇時，互相疊加或互相抵消，引起光強的重新分布，在某些區域始終加強，在某些區域始終減弱，從而出現了明暗相間的條紋，這種現象稱為光的干涉。使用光纖光譜儀測薄膜厚度上圖為使用海洋光學光纖光譜儀，利用干涉效應來測量薄膜厚度的原理圖。當一束光以θ1從薄膜表面入射，其中一部分光直接反射，另一部分光則以θ2進入薄膜發生折射，折射光經膜層下表面反射后，再經
Phasics波前傳感器的使用方向
Phasics 的波前傳感器和定量相位成像相機結構緊湊，對振動不敏感，可與任何光學顯微鏡集成。這使得?SID4?成為執行在線和離線材料鑒定的理想工具，例如繪制透明材料中Phasics測量折射率變化、激光誘導波前傳感器測激光損傷閾值監測、光學波前傳感器測量表面形貌和納米顆粒光熱成像。可以測量范圍廣泛的樣品，包括飛秒激光刻寫波導、光纖布拉格光柵、微結構光學表面、光學涂層、納米粒子。