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ICP-OES、ICP-MS、AAS傻傻分不清ICP-OES,即電感耦合等離子體(ICP)光譜儀;而ICP-MS,則以ICP方法離子質譜分析。有時,人們會叫它。“ICP質譜分析”。那他們和AAS有什么區別?如何選擇統計分析方法?針對有著ICP-OES有技術背景的人,ICP-MS它是一種以質譜儀器為探測器的等離子體(ICP),但質譜分析學者認為,質譜分析學者認為ICP-MS是一個以ICP質譜儀器為源
便攜式光譜儀采用原子**光譜學的分析原理,樣品經過電弧或火花放電激發成原子蒸汽,蒸汽中原子或離子被激發后產生**光譜,**光譜經光導纖維進入光譜儀分光室色散成各光譜波段,根據每個元素**波長范圍,通過光電管測量每個元素的譜線,每種元素**光譜譜線強度正比于樣品中該元素含量,通過內部預制校正曲線可以測定含量,直接以百分比濃度顯示。便攜式光譜儀引入光纖技術,使待測物脫離了樣品池的限制,采樣方式變得較為
鍍層厚度測試儀的工作原理是鍍層厚度測試儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的*二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會對樣品造成損壞。同時,鍍層厚度測試儀測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。鍍層厚度測試儀優勢:耐腐蝕性驗證所用涂料的厚度和化學性,以確保在惡劣環境中的產品功能和壽命。小的緊固件或大組件都可輕松處理。
X熒光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后,儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。近年來,X熒光光譜分析在各行業應用范圍不斷拓展,已成為一種
公司名: 昆山市周市牧亞凱機電設備商行
聯系人: 李經理
電 話:
手 機: 18550531168
微 信: 18550531168
地 址: 江蘇蘇州昆山市周市鎮青陽北路860號
郵 編:
網 址: skyray1.b2b168.com
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