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在半導體行業中,極小的表面缺陷和顆粒是一個主要問題,這會降低產量并耗費生產的時間和成本。因此,檢測半導體晶圓表面的缺陷和污染至關重要,這是在半導體計量行業許多客戶面臨的挑戰。晶圓表面檢測的快速且具有成本效益的方法之一是使用激光線照明和暗場/明場顯微鏡來檢測缺陷,通常在深紫外(DUV)波長下檢測100nm以下的缺陷。在這種方法中,Holoor指出當線沿徑向掃描時,晶圓旋轉,產生晶圓的大面積采樣,從而
ALPHALAS PICOPOWER-LD系列的皮秒脈沖激光二極管對于特定波長的激光脈沖可低至12ps,峰值功率超過2w,這主要得益于其具備產生皮秒高電流脈沖的專有激光二極管驅動器。皮秒脈沖激光二極管的驅動器分為三類:PLDD-20M、PLDD-50M、PLDD-100M,頻率范圍分別為1Hz-20MHz、1Hz-50MHz、1Hz-100MHz。圖中的CW指可選的CW模式(除了脈沖模式操作之外)
高光譜成像是一種表面測量方法,因此灰塵或任何遮蓋樣品表面的東西都會干擾掃描并阻礙測量。那么如何在多塵環境中操作高光譜相機測量樣品呢??灰塵出現在被測物體上干凈的樣品總是得到更好的測量,能提高它們的識別度。例如,在測量樣品核心部分時,必須在掃描之前清潔樣品。在回收過程中,灰塵或包裝標簽會阻礙系統的分揀精度。如果要分揀的材料無法清潔或充分暴露在攝像機下,則需要調整分揀算法以將這種情況考慮在內
負剛度隔離技術介紹:負剛度隔振器于1990年代中期問世,在對隔震有苛刻要求的應用中廣受好評,這主要是因為它們能夠有效地隔離垂直和水平方向的低頻振動。這些隔離器的工作方式與主動隔振系統完全不同,它是被動的機械模式運行,不需要使用空氣或電力,因此不需要使用電子,電機或泵。負剛度隔振機制組合可以通過剛性彈簧支撐負重來隔離垂直的振動源,在不影響彈簧靜態載荷支撐能力的情況下使其垂直振動力變低,與垂直運動隔離
公司名: 深圳維爾克斯光電有限公司
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