鹽霧試驗(yàn)的種類以及判定方法

時(shí)間：2023-06-08作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：85

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 光纖在高低溫測(cè)試中的變化

  有試驗(yàn)結(jié)果表明，在連續(xù)冷卻試驗(yàn)中，光纖在-55℃以下，光纖的損耗增加，尤其是在-60℃以下，損耗更是顯著增加，不能滿足實(shí)際應(yīng)用的需要。在連續(xù)升溫測(cè)試中（-70~-55℃）,光纖損耗均有所下降，這表明由于溫度下降而導(dǎo)致的光纖損耗是可逆的，隨著溫度的回升，損耗也會(huì)隨之下降。?1、光纖的溫度特性是指在高、低溫條件下對(duì)光纖損耗的影響。在低溫條件下光纖損耗增大，這是由于光纖涂覆層、套塑層和石英的膨

• 快速溫變?cè)囼?yàn)箱的設(shè)備特點(diǎn)介紹

  ? ? ?快速溫變?cè)囼?yàn)箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧跍囟瓤焖俎D(zhuǎn)變的情況下檢驗(yàn)產(chǎn)品的各項(xiàng)性能指標(biāo)。快速溫變?cè)囼?yàn)箱的設(shè)備特點(diǎn)：1、試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)先進(jìn)合理，配套產(chǎn)品和功能元器件具有國(guó)際先進(jìn)水平，能夠適 應(yīng)長(zhǎng)期、穩(wěn)定、安全、可靠的生產(chǎn)需求。能夠滿足用戶為從事上述用途的加工生產(chǎn)要 求，且使用、操作、維修方便，使用壽命長(zhǎng)，造型美觀

• 冷熱沖擊試驗(yàn)箱可用于半導(dǎo)體芯片的測(cè)試

  芯片(chip)，又稱微芯片（microchip），是集成電路的載體。一般而言，芯片（IC）泛指所有的半導(dǎo)體元器件，是在硅板上集合多種電子元器件實(shí)現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設(shè)備中*重要的部分，承擔(dān)著運(yùn)算和存儲(chǔ)的功能。?????溫度的改變對(duì)半導(dǎo)體的導(dǎo)電能力、極限電壓、極限電流以及開關(guān)特性以及開關(guān)特性等都有很大的影響。當(dāng)溫度過(guò)高時(shí)元器件體積發(fā)生

• 高低溫低氣壓試驗(yàn)箱/低氣壓試驗(yàn)箱

  高低溫低氣壓試驗(yàn)箱/低氣壓試驗(yàn)箱 型號(hào)*1 AZVAT(H)150U AZVAT(H)500U AZVAT(H)1000U 電源 交流380V 50赫茲 3相+N+PE 較大電流 21/21 30/37 33/40 最大功率 9.5/11 16.5/18 18/21 使用環(huán)境溫/濕度 +15～+35℃/≤85%RH 控制方式 獨(dú)立的冷端和熱端PID調(diào)節(jié)，熱量和冷量均可連續(xù)調(diào)節(jié) 性能*3 溫度范圍