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Prodidy Technovations 推出用于SD卡和eMMC設(shè)備的 AC/DC電氣驗證解決方案
Prodigy Technovations Pvt. Ltd,總部位于班加羅爾,推出了其 PGY-SSM-EV-Tester SD、eMMC AC/DC 電氣驗證測試儀,用于UHS-I和eMMC for HS400(eMMC5.1)規(guī)范的SD卡的電氣特性。這種創(chuàng)新的解決方案使驗證工程師能夠通過單擊按鈕來測試SD卡和eMMC器件的不同作模式,并表征 100 多種電氣和時序規(guī)格,從而節(jié)省大量驗證時間。
UFS協(xié)議分析儀是針對通用閃存存儲(UFS)接口開發(fā)的測試工具,主要用于解析UFS、MIPI M-PHY和UniPro協(xié)議層的通信數(shù)據(jù),支持從物理層到應(yīng)用層的全鏈路分析。以下是其主要案例及應(yīng)用范圍的詳細(xì)解析:一、典型應(yīng)用案例1.移動設(shè)備研發(fā)與測試l?華為Mate系列手機(jī):在研發(fā)UFS 3.0存儲模塊時,華為使用Prodigy的UFS 3.0協(xié)議分析儀進(jìn)行長時間數(shù)據(jù)抓取(如連續(xù)運(yùn)行5小時以
I3C CTS (Conformance Testing Suite)一致性測試套件 如何測試 I3C 器件的互作性或一致性測試?
I3C協(xié)議勢頭強(qiáng)勁,將成為汽車、數(shù)據(jù)和許多其他應(yīng)用的主流技術(shù)。市場上出貨的 I3C 接口半導(dǎo)體數(shù)量在過去 3 年中增長了 3 倍,預(yù)計未來十年增長將翻一番。隨著具有 I3C 接口的半導(dǎo)體芯片的增長,傳感器和 eeprom 等設(shè)備也需要支持或遷移到 I3C 協(xié)議。遷移到I3C 接口將使設(shè)備能夠發(fā)送較高的性能以及較好的控制和配置。以下是遷移到 I3C 接口的一些主要優(yōu)勢·??&nb
Prodigy 宣布推出世界上臺經(jīng)過測試量產(chǎn)的UFS4.0 協(xié)議分析儀
總部位于班加羅爾的?Prodigy Technovations Pvt. Ltd 推出了其?PGY-UFS4.0-PA?M-PHYSM、UniPro? 和 UFS4.0 協(xié)議分析儀,用于開發(fā)下一代閃存 UFS 4.0,每通道接口 23.2 Gbps,用于 5G、移動、汽車、物聯(lián)網(wǎng)、AR/VR 應(yīng)用。PGY-UFS4.0-PA?使設(shè)計和測試工程師能夠根據(jù)其規(guī)格
公司名: 深圳市歐奧電子科技有限公司
聯(lián)系人: 鄭陽燕
電 話: 19926571623
手 機(jī): 18588455974
微 信: 18588455974
地 址: 廣東深圳龍華區(qū)昌盛科技大廈503
郵 編:
網(wǎng) 址: qiuxiangchen.b2b168.com

Prodigy UHS-II 協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,歐奧電子供應(yīng)可用于芯片測試驗證

100BASE-T1汽車以太網(wǎng)協(xié)議分析儀

Prodigy I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器 歐奧電子供應(yīng)用于芯片研發(fā)測試驗證

Prodigy SD eMMC AC/DC 測試儀, 歐奧電子OIOSYS芯片研發(fā)測試驗證

Prodigy PGY-LA Multi I3C協(xié)議分析儀 邏輯分析儀

歐奧MS100材料電子納米器件掃描探針顯微鏡

歐奧一鍵式全自動進(jìn)樣 納米MS100掃描探針顯微鏡適用半導(dǎo)體材料

歐奧原子級分辨率 納米MS100原子力顯微鏡/AFM適用納米器件
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聯(lián)系人: 鄭陽燕
手 機(jī): 18588455974
電 話: 19926571623
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如何選購靠譜ROHS檢測儀?這些品牌與廠家值得關(guān)注
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