可程式恒溫恒濕箱操作規(guī)程

時(shí)間：2022-09-15作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：251

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說明

• 電子產(chǎn)品可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)有哪些？

  電子類的產(chǎn)品在持續(xù)地增多，在產(chǎn)品的制造過程中，都會(huì)因?yàn)楦鞣N原因而對產(chǎn)品的質(zhì)量產(chǎn)生影響，可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)的目的就是要了解電子產(chǎn)品在生產(chǎn)和應(yīng)用的過程中，遇到不同的氣候環(huán)境和機(jī)械環(huán)境，會(huì)不會(huì)對產(chǎn)品的正常使用產(chǎn)生影響。利用可靠性測試方法，可以測定出在不同環(huán)境中使用或儲(chǔ)存的電子產(chǎn)品的可靠特性參數(shù)，為其應(yīng)用、生產(chǎn)及設(shè)計(jì)提供依據(jù)；在產(chǎn)品設(shè)計(jì)，原料和過程中，還可能會(huì)發(fā)現(xiàn)一些問題。電子產(chǎn)品可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)如下：高溫測試

• 高低溫快溫變試驗(yàn)箱/高低溫快速循環(huán)試驗(yàn)箱/高溫、低溫、高低溫循環(huán)箱/溫度篩選（ESS）試驗(yàn)箱/快速升降溫試驗(yàn)機(jī)

  高低溫快溫變試驗(yàn)箱/高低溫快速循環(huán)試驗(yàn)箱/高溫、低溫、高低溫循環(huán)箱/溫度篩選（ESS）試驗(yàn)箱/快速升降溫試驗(yàn)機(jī) KWGDS系列簡介：本試驗(yàn)箱適用于對產(chǎn)品（整機(jī)）、零部件、材料進(jìn)行高溫、低溫、高低溫循環(huán)及溫度篩選（ESS）試驗(yàn)。本試驗(yàn)箱可用于散熱試驗(yàn)樣品和非散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)。對于散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)，其散熱功率不能**過試驗(yàn)箱制冷量，因制冷量為動(dòng)態(tài)值，其隨溫度點(diǎn)變化而有所變化，同時(shí)，較高濕度也會(huì)因散熱

• 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)及共性問題

  環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)及共性問題? 一、概況 ????環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗(yàn)方法，隨著生產(chǎn)力的進(jìn)步、國民經(jīng)濟(jì)的發(fā)展，環(huán)境試驗(yàn)方法的日臻豐富，相應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備亦隨之日益增多。為了使環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芸煽俊⒊掷m(xù)地得到實(shí)施，這就需要有質(zhì)量上乘，性能合格的試驗(yàn)設(shè)備，而要達(dá)到這一要求，就需有一個(gè)統(tǒng)一衡量試驗(yàn)設(shè)備尺度即環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)，以及環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本

• 集成電路IC卡高溫測試

  在集成電路行業(yè)大家想必都知道，集成電路IC卡在出廠之前是需要經(jīng)過高低溫測試的，來測試其在高低溫環(huán)境下的性能，集成電路 IC卡在出廠之前，一定要進(jìn)行環(huán)境測試，以此來對集成電路在不同工作環(huán)境下的性能進(jìn)行模擬，集成電路高低溫測試是依靠封裝級和晶片級集成電路**高低溫測試機(jī)，來協(xié)助廠商完成高低溫循環(huán)測試、冷熱沖擊測試、老化測試等測試。芯片的高/低溫度測試可以在一秒內(nèi)實(shí)現(xiàn)恒定溫度的快速升降，且精度達(dá)到±1℃