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X射線熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光(X-ray fluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調查和研究,地球化學,法醫學,考古學和藝術品,例如油畫和壁畫。 一種射線式
X熒光光譜鍍層測厚儀既滿足原有微小和復雜形態樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析,被廣泛應用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量。X熒光光譜鍍層測厚儀配置01 獨立的X/Y/Z軸控制系統02 微焦斑X光管?03 可變高壓電源04 防撞板外加防撞激光保護檢測器對儀器進行雙重安全保護05 Fast-SDD探測器06 雙激光定位裝置07 標配可自動切換的準直
RoHS檢測儀就是歐盟RoHS測試標準的檢測儀器。簡單的說就是測試鉛Pb,鎘Cd,汞Hg,六價鉻Cr6+,多溴二苯醚PBDE,多溴聯苯PBB六種有害物質的儀器。rohs檢測儀性能半導體硅片電制冷系統,摒棄液氮制冷自動濾光片選擇多種準直器自動自由切換三重安全保護模式相互獨立的基體效應校正模型多變量非線性回歸程序樣品腔自動開關軟件定位樣品平臺,最小位移0.01mm自動切換準直器和濾光片,分別針對不同樣
ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀,分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類,波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長色散光譜儀主要部件包括激發源、分光晶體和測角儀、探測器等,而能量色散光譜儀則只需激發源和探測器和相關電子與控制部件,相對簡單。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線,根據Bragg定律
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
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