聚焦離子束（FIB）在成分分析中的應(yīng)用

時間：2020-02-14作者：深圳市啟威測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：312

深圳市啟威測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司專注于表面微觀形貌SEM,材料斷口觀察SEM,表面成分分析EDS,微量污染物成分分析,涂鍍層厚度測試,表面粗糙度量測等

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  詞條說明

• 材料斷口觀察SEM分析檢測

  用肉眼（目視）或在不大于10倍的放大鏡下，檢驗金屬的宏觀組織和缺陷稱為組織檢驗。在實驗室中，常用的檢驗方法有酸蝕低倍檢驗、斷口檢驗、塔形車削發(fā)紋檢驗和硫印試驗等。酸蝕低倍檢驗，這是一種將制備好的試樣，經(jīng)過酸液腐蝕以后，來顯示試樣的宏觀組織的檢驗。而根據(jù)酸液溫度的不同，又可以分為熱酸蝕和冷酸蝕兩種檢驗。按GB/T1979評級圖對照低倍組織缺陷圖來進行評級。，通過放大鏡，在酸蝕后的試片上可以發(fā)現(xiàn)各種皮

• 表面微觀形貌的測量與評定

  表面形貌評定的核心在于對特征信號無失真的提取和對使用性能的量化評定，國內(nèi)外學(xué)者在這一方面做了?大量工作，提出了許多分離與重構(gòu)方法。隨著當(dāng)今微機處理技術(shù)、集成電路技術(shù)、機電一體化技術(shù)等的發(fā)展。出現(xiàn)了用分形法、Motif法、功能參數(shù)集法、時間序列技術(shù)分析法、小二乘多項式擬合法、濾波法等各種評定理論與方法，取得了顯著進展。表面是由粗糙度，波紋度和表面形狀誤差3個部分構(gòu)成的。隨著現(xiàn)代測量精度的不

• X射線光譜方法測定

  X射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基于一束強烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產(chǎn)生離散波長和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量（若密度已知，則為覆蓋層線性厚度）和二次輻射強度之間存在一定的關(guān)系。該關(guān)系首先由已知單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正標(biāo)準(zhǔn)塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，同時又給出實際的密度，則這樣的標(biāo)準(zhǔn)塊就能給出覆蓋層線性厚度。測試設(shè)

• 什么是表面微觀形貌SEM？

  表面所具有的微觀幾何形狀統(tǒng)稱為表面形貌(surface?topography)，?其中表面被定義為-?-種材料與其它材料之間的分界面"?(在工程表面的情況下，一種材料是空氣，另-種為固體材料，例如金屬、塑料等)。固體表面是指固體上代表實體和周圍環(huán)境邊界的部分。工程表面形貌代表著工件表面的主要外部特征，是由加工過程中的各種工序產(chǎn)生的。一個制件表面的微觀幾何形貌