詞條
詞條說(shuō)明
工業(yè)CT也叫計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù),是利用X射線直接照射到測(cè)試件上,捕獲測(cè)試件內(nèi)部和外部的完整、精確的圖像。其工作原理可以簡(jiǎn)單概括為:從X射線源**出來(lái)的X射線對(duì)在X射線源和檢測(cè)器之間做平移運(yùn)動(dòng)的被檢測(cè)物體進(jìn)行掃描,在一次掃描結(jié)束后,被檢測(cè)物體旋轉(zhuǎn)一個(gè)角度再進(jìn)行下一次掃描,直至完成整個(gè)工件的掃描,即可得到被檢測(cè)物體的某一斷面的若干組數(shù)據(jù)。 這些信息數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)計(jì)算機(jī)計(jì)算、處理,重新建立一個(gè)完整的斷面圖像
蔡司三坐標(biāo)手動(dòng)測(cè)量詳細(xì)介紹
蔡司三坐標(biāo)使用手動(dòng)方式(或操縱桿方式)測(cè)量零件時(shí),要注意以下幾個(gè)方面問(wèn)題: 1、要盡量測(cè)量零件的大范圍,合理分布測(cè)點(diǎn)位置和測(cè)量適當(dāng)?shù)狞c(diǎn)數(shù)。 2、測(cè)點(diǎn)時(shí)的方向要盡量沿著測(cè)量點(diǎn)的法向,避免測(cè)頭“打滑”。 3、測(cè)點(diǎn)的速度要控制好,測(cè)各點(diǎn)時(shí)的速度要一致。 4、測(cè)量時(shí)要選擇好相應(yīng)的工作(投影)平面或坐標(biāo)平面。 要做到以上幾點(diǎn),需要操作人員有良好的手感,和一定的經(jīng)驗(yàn)。 1、手動(dòng)測(cè)量點(diǎn) 使用蔡司三坐標(biāo)手操盒驅(qū)動(dòng)
ZEISS三坐標(biāo)實(shí)現(xiàn)流水線全檢的工業(yè)CT解決方案
工業(yè)產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)隨著制造工藝的提高和產(chǎn)品性能的升級(jí)越來(lái)越復(fù)雜,如今ZEISS三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)或視覺(jué)系統(tǒng)傳統(tǒng)的測(cè)量方案已經(jīng)無(wú)法滿足其需求。目前工業(yè)界越來(lái)越受歡迎的解決方案為工業(yè)CT(計(jì)算機(jī)斷層掃描),主要因?yàn)闊o(wú)損的探測(cè)及測(cè)量的優(yōu)勢(shì)。目前來(lái)說(shuō),多數(shù)市面上的工業(yè)CT產(chǎn)品測(cè)量效率比較低,每工件測(cè)量時(shí)間需要20分鐘或者到幾個(gè)小時(shí)也有可能,所以應(yīng)用起來(lái)也有局限性,只能在實(shí)驗(yàn)室產(chǎn)品或小規(guī)模抽樣檢測(cè)中使用。 如今在
說(shuō)到哪款三坐標(biāo)機(jī)型操作便捷,ZEISS蔡司的SPECTRUM三坐標(biāo)推薦指數(shù)較高,堪稱操作便捷性測(cè)量**。 蔡司SPECTRUM三坐標(biāo)結(jié)構(gòu)緊湊的測(cè)量機(jī)設(shè)計(jì)專為取代生產(chǎn)中的手動(dòng)測(cè)量設(shè)備。機(jī)械振動(dòng)和18-30攝氏度之間溫度波動(dòng)對(duì)它都不會(huì)造成影響,占地面積僅一平方米。雖不如測(cè)量實(shí)驗(yàn)室中使用的ZEISS PRISMO SACC三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的精確,但也大大**手動(dòng)測(cè)量。蔡司SPECTRUM三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)同樣可以
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