恒溫恒濕試驗機機，恒溫恒濕試驗箱常見問題整理

時間：2017-01-10作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：377

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗箱,恒溫恒濕試驗箱,快速溫度循環(huán)試驗箱等

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• 可程式恒溫恒濕試驗機常見問題整理

  可程式恒溫恒濕試驗機常見問題整理 說明： ???整理與介紹目前環(huán)境試驗當中，使用者在使用環(huán)境試驗設備，以及對于規(guī)范的要求常遇見的問題與迷失，若您有下述相關問題歡迎您與業(yè)務部聯(lián)系，我們將竭誠為您服務。 ? 環(huán)境試驗的正確擺設方式？ 說明：待測品擺放于機臺測試區(qū)當中，怎么樣擺設才是正確的，規(guī)范是否有要求?，與體積有關嗎、與重量有關嗎、與材質(zhì)有關嗎..等，如果有

• 為什么高溫烘箱不能在滿載情況下做試驗

  據(jù)標準要求高溫烘箱的工作室容積至少應是被測試產(chǎn)品外廓體積的3～5倍，其理由如下：1、被測試產(chǎn)品置入箱體后擠占了流暢的通道，通道變窄將導致氣流流速的增加，加速氣流與被測試產(chǎn)品之間的熱交換。這與環(huán)境條件的再現(xiàn)不符，因為在有關標準中對涉及溫度環(huán)境試驗都規(guī)定高低溫試驗箱內(nèi)試驗樣件周圍的空氣流速不應**過1.7m/s，以防止試驗樣件和周圍氣氛產(chǎn)生不符合實際的熱傳導，在空載時試驗箱內(nèi)平均風速為0.6～0.8m/

• 冷熱沖擊試驗箱可用于半導體芯片的測試

  芯片(chip)，又稱微芯片（microchip），是集成電路的載體。一般而言，芯片（IC）泛指所有的半導體元器件，是在硅板上集合多種電子元器件實現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設備中*重要的部分，承擔著運算和存儲的功能。?????溫度的改變對半導體的導電能力、極限電壓、極限電流以及開關特性以及開關特性等都有很大的影響。當溫度過高時元器件體積發(fā)生

• WGD高低溫（交變）試驗箱

  WGD高低溫（交變）試驗箱 特點： · 增強型PC 控制主機，10.4″TFT工業(yè)液晶工業(yè)顯示器，觸摸屏控制； · 中文/英文人機交互式控制軟件，Windows 操作平臺； · 100組×16段工作程序/曲線設定及動態(tài)跟蹤顯示，全數(shù)字式PID自整定調(diào)節(jié)，*用戶調(diào)試的*功能； · **大的40G硬盤存儲量以及方便的USB前置接口,數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)移及打印較其方便； · RS232通訊網(wǎng)絡接口,方便網(wǎng)絡時時監(jiān)