詞條
詞條說(shuō)明
半導(dǎo)體芯片在進(jìn)行高低溫測(cè)試時(shí)的注意事項(xiàng)
半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試是jin屬、元器件、電子汽車(chē)配件、化學(xué)材料等材料行業(yè)經(jīng)常能用到的測(cè)試,用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料。在經(jīng)過(guò)高溫及較低溫的連續(xù)變化環(huán)境試驗(yàn)我們可以檢測(cè)出半導(dǎo)體芯片忍受較端溫度變化的程度,得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)到試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理?yè)p傷。在做半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試需要特別注意,在使用的過(guò)程中不能輕易打開(kāi)半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試箱,主要原因如下:1.做半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試時(shí)需要用
介紹溫度循環(huán)試驗(yàn)箱幾大系統(tǒng)的作用
?一、溫度循環(huán)試驗(yàn)箱制冷系統(tǒng):制冷系統(tǒng)有兩個(gè)作用:1、對(duì)工作室制冷;2、對(duì)除濕槽制冷。制冷系統(tǒng)為單級(jí)壓縮制冷循環(huán),系統(tǒng)由壓縮機(jī)、風(fēng)冷凝器、儲(chǔ)液器、干燥過(guò)濾器電磁閥、膨脹閥及蒸發(fā)器組成。制冷系統(tǒng)工作受 “制冷” 開(kāi)關(guān)控制,通過(guò)“濕熱控制”開(kāi)關(guān)切換對(duì)工作室制冷或?qū)Τ凉癫壑评?。二、溫度循環(huán)試驗(yàn)箱加熱系統(tǒng):加熱系統(tǒng)用于供給工作室熱量。有兩個(gè)作用:1、工作室升溫,使工作室溫度升高控恒溫;2、當(dāng)制冷
空間環(huán)境實(shí)驗(yàn)艙 ? ? ? 1、模擬宇宙空間環(huán)境的設(shè)備。用于試驗(yàn)航天器耐真空、冷黑、太陽(yáng)輻射、磁場(chǎng)和承受高能粒子輻射、太陽(yáng)風(fēng)和微流星體等的能力。 2、熱真空環(huán)境模擬器。用以模擬真空、冷黑和太陽(yáng)輻射 3項(xiàng)宇宙空間基本參數(shù),用于進(jìn)行航天器的熱真空試驗(yàn)和熱平衡試驗(yàn)。 3、空間動(dòng)力學(xué)模擬器。一種大型低真空模擬系統(tǒng)。 4、空間組合環(huán)境模擬器。模擬的環(huán)境包括太陽(yáng)輻射、紫外線(xiàn)、電
高低溫濕熱測(cè)試箱/高低溫恒定濕熱測(cè)試箱/高低溫交變濕熱測(cè)試箱
高低溫濕熱測(cè)試箱/高低溫恒定濕熱測(cè)試箱/高低溫交變濕熱測(cè)試箱 SDJ系列簡(jiǎn)介:本試驗(yàn)箱適用于對(duì)產(chǎn)品(整機(jī))、零部件、材料進(jìn)行高溫、低溫、高低溫循環(huán)試驗(yàn),以及恒定濕熱和交變濕熱試驗(yàn)。本試驗(yàn)箱可用于散熱試驗(yàn)樣品和非散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)。對(duì)于散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn),其散熱功率不能**過(guò)試驗(yàn)箱制冷量,因制冷量為動(dòng)態(tài)值,其隨溫度點(diǎn)變化而有所變化,同時(shí),較高濕度也會(huì)因散熱產(chǎn)品帶來(lái)熱量須冷卻平衡時(shí)引起凝露而受到影響。
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